时间：2007/6/18
点击：10621
评分：10 分
助您应对工业测控新兴挑战-PAC平台选型指南_PAC高峰论坛2007
视频介绍 时间：2007/6/18
在基于PC的测量测试领域，NI是全球领先者，是虚拟仪器的领头羊。本次论坛中，NI技术市场工程师俞涛先生的主题为“助您应对工业测控新兴挑战”，在介绍“使用CompactRIO开发EDM过程控制器”、“在食品加工中增加视觉进行优化”、“壳牌石油-S3 抽压系统”等案例过程中，NI工程师另辟蹊径，着重讲解了用户在试用NI PAC平台时如何选型，从I/O、控制算法到软件平台等各个环节，详细介绍了如何利用PAC构建从简单到复杂的控制系统。
【展开详细】
相关视频
-
Beckhoff PAC — 嵌入式工业PC_PAC高峰论坛2007深圳
2007/7/18 10648 -
PAC 方案在设备自动化的应用与发展_PAC高峰论坛2007深圳
2007/7/17 9963 -
节能与高效——西门子自动化_PAC高峰论坛2007深圳
2007/7/16 24584 -
PAC 方案在设备自动化的应用与发展_PAC高峰论坛2007上海
2007/7/6 9889 -
新一代的自动化控制器——PAC Systems产品介绍_PAC高峰论坛2007上海
2007/7/6 11242 -
Logix PAC罗克韦尔自动化 新一代的控制器_PAC高峰论坛2007上海
2007/7/6 12984 -
Opto 22 SNAP PACs 卓越品质 贴心服务_PAC高峰论坛2007上海
2007/7/6 11696 -
第二届中国PAC应用高峰论坛在沪再掀热潮_PAC高峰论坛2007上海
2007/7/5 11760
最新发布
-
- 改变传统理念-深化OEM自动化价值
2008年12月，SCHNEIDER OEM Initi@tive（施耐德电气OEM创新之旅）在摩纳哥举行。施耐德 >>
-
-
-
