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时间:2016/7/18
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此次研讨会主讲美国邦纳 新产品Q3X对比度识别传感器和Q4X激光测距传感器,详细介绍新产品强大的功能,便捷的可操作性,人性化的设计。并分享该产品的应用场合以及其成功的应用案例。
邦纳在测量与检测技术的应用有着几十年的丰富经验,在自动化领域被广泛应用,新产品的发布进一步丰富了邦纳测量与检测产品线,为更多的客户提供更多的解决方案。
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