在半导体制造过程中，“干燥”从来不是一个简单的环境条件，而是决定良率与稳定性的关键变量。从气体输送到晶圆探针测试，哪怕是极其微量的水分变化，都可能引发一系列问题：测试腔体结霜、测量误差增加、工艺波动甚至设备停机。

然而，在实际应用中，企业仍然面临诸多挑战：气体管线中的温度波动、复杂的连接结构、低流量环境以及采样过程本身，都可能让露点测量变得“不再可靠”。

在超干燥环境下，露点的微小变化意味着水分含量的巨大差异。例如，在-80°C露点条件下，气体中的水分含量仅为约0.5ppmv，相比普通办公室空气，干燥程度高出数万倍。

在这样的环境中：测量误差不再只是“数值偏差”，而可能直接影响工艺判断与产品质量。尤其是在晶圆探针测试过程中，若露点控制不当，测试腔体极易产生结霜，进而影响测试准确性与设备稳定性。

会议议程

极端干燥条件下露点测量的核心原理

半导体气体系统中的典型挑战

晶圆测试中的露点控制关键点

如何通过优化测量方式提升数据可靠性

快速响应技术在实际应用中的价值

N32H49x系列：高性能MCU赋能光通信、储能与工业控制

本次演讲将围绕N32H49x系列的三款子型号——N32H492、N32H493、N32H497展开，重点解读其在三大应用场景中的差异化优势：

光通信场景：N32H493支持1.8V低压I/O独立供电，可直接对接SFP/SFP+/SFP28及QSFP光模块，无需电平转换；双Bank Flash实现业务零中断升级；SRAM全ECC纠错保障数据完整性；FEFT 4A级，ESD 4A级抗干扰能力适应复杂电磁环境。

储能BMS场景：N32H497系列集成3路CAN-FD，满足多节点通信需求；3×12bit高速ADC实时监控电池电压/电流；硬件加密引擎防篡改，保障储能系统安全。

工业控制场景：N32H492/497系列内置三角函数加速器与Delta Sigma解调滤波，配合高级定时器，实现高精度伺服电机控制；10路U(S)ART、6路SPI满足多设备互联；-40℃~105℃宽温适应严苛工业现场。

会议议程

主题演讲：国民技术N32H49x系列深度解读：高性能MCU在光通信、储能、工业控制的应用优势全解析

   演讲人：国民技术市场总监  杨平

圆桌互动

   邀请在光通信、储能与工业控制领域具有深厚技术积累的合作伙伴共同分享行业洞察与实践经验

开发环境演示：现场演示开发板功能，涵盖全功能板与最小系统板

   演示人：国民技术高级工程师

FAE面对面

   互动人：国民技术高级FAE工程师

雅科贝思的高刚性XYZT气浮运动平台，摆动式双向重复检测结果显示，X轴双向重复精度43 nm，Y轴双向重复精度59 nm。气浮平台相关核心部件均自研，为客户定制整套解决方案。

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详情请致电联系021-58595800

雅科贝思携多款针对半导体行业定制化研发的明星产品及解决方案重磅参展，全面覆盖半导体晶圆处理、先进封装、芯片分选、真空环境、精密检测等核心场景，完美适配AI算力驱动下的高端半导体制造需求，成为展会现场备受关注的核心展商之一。

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