工控视频搜索

福禄克Fluke 110 系列数字多用表: Fluke 110系列真有效值数字万用表是供现场维护技术人员使用的紧凑型真有效值仪表。特点：白色 LED背光照明即使在光线较弱的位置也能有效读数；最小值/最大值/平均值测量功能，记录信号波动情况；内置用于 HVAC 应用的温度计，用于测试火焰传感器的微安测量 (F116C)；具有用于非接触电压检测的 VoltAlert™ 技术，AutoVolt 自动直流/交流电压选择 (F117C)；LoZ 功能：低输入阻抗，可防止因虚假电压引起的错误读数 (F116C、 F117C)；可测量 20 A(30 秒瞬时；10 A 连续)(F116C 、F117C)；真有效值，电阻、连续性、频率和电容测量；紧凑的人体工程学设计，适合单手操作；可使用选配的磁性仪表悬挂索带 (ToolPak™) 不用手握住也能测量；安全等级 CAT III 600 V。

福禄克Fluke 187189 数字模拟多用表: Fluke 187/189 数字/模拟多用表 ,非常快的响应速度 ,50,000 字的高分辨率显示 ,0.025% 基本直流精度 ,真有效值（交流＋直流）测量 ,100 kHz 交流带宽的电压和电流测量 ,人体工程学防撞保护套 ,双显，带有模拟指针和两级背光 ,具有时标的最小值/最大值/平均值测量， 250 µs 的快速（最小值－最大值）测量 ,频率、电容、占空比和脉冲宽度测量 ,电阻、电导系数、通断和二极管测量 ,温度和以选定的dBV参考的dBV/dBm测量 ,PC接口，可进行数据交换和非开盖校准 ,无需破坏校准铅封，即可更换电池和保险丝 ,EN 61010-1 (IEC 1010-1) CAT III 1000V /CAT IV 600V ,终身质保 ,内部存储器可存储多达1000个测量结果（仅限189型） ,读数存储器可存储多达100个读数(仅限189 型)

[第1讲] S7-200中的常用软元件及输入与输出Q的使用方法(上)-华工大S7-200系列课程: 本节讲师以实际生动的比喻开启了S7-200中的常用软元件的介绍，如I/Q输入、中间继电器M、状态S、定时器T、计数器C、存储器V等，使学员先建立起基本的概念。本节重点讲解了输入I和输出Q的使用方法和逻辑编程时遵循的原则，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。

电子测量原理(27): 数字多用电表,DVM误差分析，DVM中的自动校正技术。电压测量的干扰及抑制技术。数字多用电表由于具有准确度高、测量范围宽、测量速度快、体积小、抗干扰能力强、使用方便等特点而广泛应用于国防、科研、工厂、学校、计量测试等技术领域，但其规格不同，性能指标多种多样，使用环境和工作条件也各有差别，因此应根据具体情况选择合适的数字多用表。

计算机网络体系结构-计算机网络基础(3-4): OSI参考模型,OSI (Open System Interconnection) 参考模型 1983年ISO 的 OSI 模型正式成为国际标准。 Fig. 1-16, Fig. 1-17 1. 物理层（The Physical Layer）在物理线路上传输原始的二进制数据位（基本网络硬件）。 2. 数据链路层（The Data Link Layer）在有差错的物理线路上提供无差错的数据传输（Frame）。 3. 网络层（The Network Layer）控制通信子网提供源点到目的点的数据传送（Packet）。 4. 运输层（The Transport Layer）为用户提供端到端的数据传送服务。 5. 会话层（The Session Layer）为用户提供会话控制服务（安全认证）。token management and synchronization (insert checkpoints into the data stream) 6. 表示层（The Presentation Layer）为用户提供数据转换和表示服务。 7. 应用层（The Application Layer）

集成运算放大器---上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的： 1．通过对集成运算放大器μA741参数的测试，了解集成运算放大器组件主要参数的定义和表示方法。 2．掌握运算放大器主要参数的测试方法。二、实验原理：集成运算放大器是一种使用广泛的线性集成电路器件，和其它电子器件一样，其特性是通过性能参数来表示的。集成电路生产厂家为描述其生产的集成电路器件的特性，通过大量的测试，为各种型号的集成电路制定了性能指标。符合指标的就是合格产品，否则就是不合格产品。要能够正确使用集成电路器件，就必须了解集成电路各项参数的含义及数值范围。集成电路的性能指标可以从产品说明书或器件手册查到，因此，我们必须学会看产品说明书和查阅器件手册。由于集成电路是半导体器件，而半导体器件的性能参数常常有较大的离散性，因此，我们还必须掌握各项参数的测试方法，这样才能保证在电路中使用的器件是合格产品，满足电路设计的需要。运算放大器的性能参数可以使用专用的测试仪器进行测试（“运算放大器性能参数测试仪”），也可以根据参数的定义，采用一些简易的方法进行测试。本次实验是学习使用常规仪表，对运算放大器的一些重要参数进行简易测试的方法。

[第31讲] 从Q0.0输出PWM脉冲: 本节重点讲解了如何从Q0.0输出PWM脉冲的方法，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。

[第30讲] S7-200中的高速计数器（下）: 本节重点讲解了S7-200中的高速计数器，介绍了模式一~模式四的使用，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。