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GENESIS64动态三维监控组态软件2D动画制作教程5: 本视频主要介绍了美国爱康诺公司最新一代基于64位核心的GENESIS64监控软件中智能符号的使用。

[第10讲]ARM启动代码的分析(5): 这主要通过设置13 个从1c80000(BWSCON)开始的特殊寄存器来设置. 0x1c80000为特殊寄存器的首地址. BWSCON(0x1c80000): 配置总线宽度 data Bus Width :8-bit,16-bit, 32-bit BANKCON0-7(0x1c80004-0x1c80020): 访问周期[10:8] Access cycle 存储器的类型[16:15](Bank6,Bank7) 定时Trcd的控制信号

[第9讲]ARM启动代码的分析(4): 这主要通过设置13 个从1c80000(BWSCON)开始的特殊寄存器来设置. 0x1c80000为特殊寄存器的首地址. BWSCON(0x1c80000): 配置总线宽度 data Bus Width :8-bit,16-bit, 32-bit BANKCON0-7(0x1c80004-0x1c80020): 访问周期[10:8] Access cycle 存储器的类型[16:15](Bank6,Bank7) 定时Trcd的控制信号

[第8讲]ARM启动代码的分析(3): 学习ARM，都不可避免地要了解系统引导，引导程序是系统加电后运行的第一段软件代码，本章將以S3C44B0X为目标来分析引导程序

[第7讲]ARM启动代码的分析(2): 学习ARM，都不可避免地要了解系统引导，引导程序是系统加电后运行的第一段软件代码，本章將以S3C44B0X为目标来分析引导程序

[第6讲]ARM启动代码的分析(1): 学习ARM，都不可避免地要了解系统引导，引导程序是系统加电后运行的第一段软件代码，本章將以S3C44B0X为目标来分析引导程序

MEMS继电器 ME-X动画演示: 精密复合超小型技术系统 PIMITES放大高密度贴装于IC测试仪及测量仪器电路板上的“ME-X”，并通过CG图像显示了根据衔铁跷跷板平衡结构运动而形成的信号流动情况。MEMS继电器 ME-X融合了松下电工长期以来培育的机械继电器技术与ＭＥＭＳ技术的、米粒大小的ＭＥＭＳ高频继电器具有长4.0mm、宽2.5mm、高1.3mm的超小型尺寸、100mw的低耗电量最大的特点是，通过采用电磁驱动方式，确保了高可靠性由于满足最大6GHz的高频带宽，因此可以用于ＩＣ测试仪及测量仪器 .

可编程控制器基本使用操作－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的 1、学习自己设计梯形图。 2、熟练应用MELSEC-FFX软件进行编程，并在ON LINE 状态下运行负载。 3、学习用可编程控制器控制交流异步电动机正反转，并对电动机正反转进行接线。二、实验器材： 1．个人电脑PC。 2．PLC程控器实验装置。 3．RS—232数据通信线。 4．继电控制装置实验板。 5．异步电动机一台。 6．导线若干。三、实验内容说明吊车或某些生产机械的提升机构需要作左右上下两个方向的运动，拖动它们的电动机必须能作正、反两个方向的旋转。由异步电动机的工作原理可知，要使电动机反向旋转，需对调三根电源线中的两根以改变定子电流的相序。因此实现电动机的正、反转需要两个接触器。

三相电路的功率测量－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 实验目的 1. 学习、掌握用三瓦计法和二瓦计法测量三相电路的有功功率。 2. 了解上述两种方法在不同情况下的实用价值。实验原理三瓦计法测量功率电路二瓦计法测量功率电路注意事项 1.测量时，严禁用身体的任何部位接触带电的金属裸露部分。 2.严禁带电改接线路，改接线中时应断开电源，如电路中有电容负载，应在断开电源后，将电容放电。 3.如使用手动量程测量时，应注意量程，切勿超过量程以免损坏电表。 4.测量功率时，功率表的电流线圈与电压线圈的端应用导线短接。 5.测量电流时，先开启电源，后将电流插头插入电流插座。以免因电源短路或电容的冲击电流过大造成电表损坏。

集成运算放大器---上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的： 1．通过对集成运算放大器μA741参数的测试，了解集成运算放大器组件主要参数的定义和表示方法。 2．掌握运算放大器主要参数的测试方法。二、实验原理：集成运算放大器是一种使用广泛的线性集成电路器件，和其它电子器件一样，其特性是通过性能参数来表示的。集成电路生产厂家为描述其生产的集成电路器件的特性，通过大量的测试，为各种型号的集成电路制定了性能指标。符合指标的就是合格产品，否则就是不合格产品。要能够正确使用集成电路器件，就必须了解集成电路各项参数的含义及数值范围。集成电路的性能指标可以从产品说明书或器件手册查到，因此，我们必须学会看产品说明书和查阅器件手册。由于集成电路是半导体器件，而半导体器件的性能参数常常有较大的离散性，因此，我们还必须掌握各项参数的测试方法，这样才能保证在电路中使用的器件是合格产品，满足电路设计的需要。运算放大器的性能参数可以使用专用的测试仪器进行测试（“运算放大器性能参数测试仪”），也可以根据参数的定义，采用一些简易的方法进行测试。本次实验是学习使用常规仪表，对运算放大器的一些重要参数进行简易测试的方法。