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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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面向二十一世纪的系统设计
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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第三代智能英特尔®酷睿™ 处理器引领研华嵌入式工控机进入新纪元
1) 研华简介 2)研华基于第三代酷睿™处理器的嵌入式产品 - PCE-5127 (Q77) 嵌入式主板 - AIMB-782 (Q77)嵌入式主板 - AOI钞票监测系统 - 军工行业应用 - X 光机检测 - 自动光学检测(AOI) - 手机无线电测试仪中的应用 - ARK-2150/ 3540嵌入式工控机 - ARK-2150/3540在电子警察、 AOI以及机器人设备中的应 - ARK-DS762数字标牌工控机及其在机场航显中的应用 - ARK-DS262 嵌入式工控机及其在IWB设备中的应用 - ARK-DS262在视频会议以及电视墙设备中的应用
  1. 2012/12/13
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高速、高效、最优成本的电源质量检测解决方案--凌华科技
凌华科技为电源质量检测量身订做一款PXI Express接口高速多通道数字化仪—PXIe-9848。其高精度及多通道设计,可大幅节省产线检测的时间成本,提升检测效率,是电源制造商值得选用的高性能模块化数字化仪测量测试解决方案。
  1. 2012/12/10
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开启高速测量测试新时代的PXI Express平台高带宽解决方案--凌华科技
凌华科技PXI Express平台的高带宽特性,可以提供优于以往PCI Express平台数倍的数据传输速度,可以大幅减少测试时间和测试成本,适合用于ATE测试设备以及各种的测量测试应用。
  1. 2012/12/10
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打造完美音质的音频质量检测解决方案--凌华科技
凌华科技音源质量检测方案采用高精度动态信号采集模块 PXI-9527,具备两组独立输入及输出、多种档位选择、高达432 kS/s采样率及IEPE电流源,提供更弹性化及高性价比的一个测试方案。
  1. 2012/12/10
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Fluke 新款测试工具上市-gongkong《行业快讯》2012年第41期(总第60期)
福禄克公司近日推出 Fluke 190 II系列 500 MHz ScopeMeter 测试工具,这是首款能在 5 GS/s 的实时采样率下实现 500 MHz 的手持式示波器,它具有密封性,坚固耐用,不会对安全设计指标、坚固性或电池运行时间产生不利影响。
  1. 2012/12/10
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