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福禄克 Fluke 用754校准测试HART智能温度变送器: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/2/15
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福禄克 Fluke 用750校准测试ItoP设备: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/2/10
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福禄克 Fluke 使用750 进行HART智能RTD温度变送器的性能测试: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/1/22
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福禄克 Fluke 启动750系列文档化全功能过程校准器: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/1/4
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凌华科技分布式机器自动化解决方案: 凌华科技提出完整“分布式机器自动化解决方案”，产品包括Master端控制及Slave端的运动控制以及多种I/O模块。针对Master端，凌华科技同时提出开放式的PCI板卡PCI-7856及嵌入式无风扇控制器DPAC-3000。另针对Slave端，凌华科技提供各款专用单轴及通用4轴运动控制Motionnet模块及各款HSL数字及模拟量I/O模块，让用户轻松扩展可控轴数及I/O点数，以满足终端客户的各种需求，可节省客户20%配线及组装成本。　　通用4轴运动控制Motionnet模块的MNET-4XMO，具有实时、高精度及高性能运动控制的特色，可轻松完成如高速点到点、高速直线及圆弧差补等功能，实现各类液晶、太阳能搬运、清洗、组装等大型机台设备的应用。通过MNET-4XMO-C运动控制模块所提供的高达2048点Point-Table 功能，也能轻松应用于点胶机、涂胶机等设备。凌华科技借助独有的高速位置比较及高达100 KHz的触发输出技术，提供少于1 ms并高达2016点的I/O控制，同时兼顾高速运动控制性能与实时I/O数据采集的解决方案，适用于自动光学检测（Automatic-Optical-Inspection, AOI）应用。　　凌华科技“分布式机器自动化解决方案”的专用单轴控制模块MNET-J3/MNET-S23/MNET-MIA，可分别支持三大知名日系伺服驱动器－三菱（Mitsubishi）J3、安川（Yaskawa）Sigma II/III/V、及松下（Panasonic）MINAS A4，满足不同客户的使用需求。

2011/12/6
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[第5讲]IPD与光电传感器的差异: 对比光电传感器介绍了IPD所占的优势在哪里以及光电传感器自身所占的优势

2010/10/18
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[第4讲]练习题: 由老师带领分析解决完成相关练习题

2010/8/19
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[第3讲]相机和快门的速度: 相机和快门的速度的区别，快门的概念，标准摄像机（全/半帧）、倍速随即摄像机（全/半帧）的介绍

2010/8/19
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[第2讲]精度-像素-视野范围: 像素概念原理的介绍，计侧精度，像素的大小是如何决定精度的高低，像素和视野范围的关系

2010/8/19
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[第1讲]光学原理和成像知识: 镜头的选择和光学原理。分别介绍了透镜的光学原理和注意事项，怎样选择中间垫圈，视野-镜头选择表，补充说明了光圈的概念和景深的概念。

2010/8/19
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